NI最新半导体测试系统长啥样？快来SEMICON CHINA大饱眼福
作为致力于为工程师和科学家提供“Smarter Test”解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，NI联合多家资深业内合作伙伴共同亮相SEMICON CHINA ，集中展示在半导体领域的测试平台及解决方案，为半导体行业提供完整测控解决方案——从研发验证到量产。
全球高规格的产业聚会，前沿技术的研讨平台，中国半导体发展的历史见证者，全球规模最大、规格最高的半导体产业年度盛会，众多定语修饰的SEMICON CHINA 2017可谓“千呼万唤始出来”，盛大开幕。
作为致力于为工程师和科学家提供“Smarter Test”解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，NI联合多家资深业内合作伙伴共同亮相SEMICON CHINA：
重点1：新一代NI半导体测试系统
技术要点
结合PXI平台技术和TestStand测试管理软件，NI专为半导体测试行业开发设计了新一代测试平台，完成DC/AC/RF半导体元器件测试、机械手/探针台/分拣系统配置的一站式操作。STS立志于为高性能射频元件、混合信号MEMS元件、SoC等半导体研发/产线测试提供可靠、高效的解决方案，完美实现半导体芯片的Wafer测试以及封装好的芯片的最终测试。
STS系列目前包含三个集成测试平台：T1, T2, T4分别适配1,2,4个PXI机箱，每个机箱最高可拓展至18插槽。提供可互换测试负载板，管脚可根据项目需求自行定义。这种紧凑的设计不仅极大的减小了测试空间，而且降低了传统ATE设备用于开发、维护不同测量模块的费用。
系统功能简述
NI新一代STS测试平台专为半导体测试行业量身定制，集合NI成熟的sbRIO、PXI测试平台，具有高度的灵活性、开放性和可靠性。用户可以根据不断发展的测试需求快速自定义测试单元，完成自动化测试系统的配置，降低半导体有效性测试的成本。目前有来自60多个仪器厂商的1,000余种模块可供选择，其中包括：
• 电流低达100fA的源测量单元 (SMU)
• 矩阵开关提供最多512个交叉点
• 基于向量的数字通道板卡
• 混合信号仪器包括: 数字化仪和DSA
• 6.6 GHz/26.5GHz的RF生成和采集
• 业内最精确7位半DMM
使用NI的产品
Demo图片
重点2：电源管理芯片混合信号特性分析演示2
技术要点
NI展示了基于向量的PXI数字通道板卡通过集成的微控制器控制和测试PMIC。微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值。PXI平台为具有集成MCU的PMIC提供了一个高度并行，紧凑的测试系统，可以从台式系统扩展到基于PXI（STS）的生产测试系统。
基于向量的PXI数字通道板卡根据已定义好时间设置和电平的向量激发数字向量，从而进行将引脚电子硬件的数字连接和DC参数测量功能与数字定时灵活性结合在一起。 基于向量的PXI数字通道板卡的多种时间设置可用于指定模式中一个向量到另一个向量之间的不同周期和边沿位置，同时也包含其它更多功能来帮助测试工程师为设备/设备系列创建完整的测试程序。
系统功能简述
本演示展示了基于向量的PXI数字通道板卡通过集成的微控制器控制和测试PMIC。微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值。本演示的待测件为Buck降压斩波电路，同时具有6路输出，通过基于向量的PXI数字通道板卡对微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值，并配合NI源测量单元（SMU）实现对电源管理芯片特性分析，测试项如负载调整率，效率等。
基于向量的PXI数字通道板卡会随带NI Digital Pattern 编辑器，非常适合于实验室的特性分析。它集成的一系列强大的调试工具，如历史RAM工具、数字示波器、实时引脚视图、系统视图，以及用于特性分析和裕量测试的Shmoo工具。
另外在PXI机箱上附带的负载板附件提供了一个机械接口，用于将PXI机箱上模块的接口连接到负载板上。这样能够充分简化待测件的安装。
使用NI的产品
基于向量的数字通道板卡参数
作为致力于为工程师和科学家提供“Smarter Test”解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，NI联合多家资深业内合作伙伴共同亮相SEMICON CHINA：
- 上海新国际博览中心 W5 5234；
- 集中展示在半导体领域的测试平台及解决方案，为半导体行业提供完整测控解决方案——从研发验证到量产。
NI SEMICON CHINA展位全景图
重点1：新一代NI半导体测试系统
技术要点
结合PXI平台技术和TestStand测试管理软件，NI专为半导体测试行业开发设计了新一代测试平台，完成DC/AC/RF半导体元器件测试、机械手/探针台/分拣系统配置的一站式操作。STS立志于为高性能射频元件、混合信号MEMS元件、SoC等半导体研发/产线测试提供可靠、高效的解决方案，完美实现半导体芯片的Wafer测试以及封装好的芯片的最终测试。
系统功能简述
NI新一代STS测试平台专为半导体测试行业量身定制，集合NI成熟的sbRIO、PXI测试平台，具有高度的灵活性、开放性和可靠性。用户可以根据不断发展的测试需求快速自定义测试单元，完成自动化测试系统的配置，降低半导体有效性测试的成本。目前有来自60多个仪器厂商的1,000余种模块可供选择，其中包括：
• 电流低达100fA的源测量单元 (SMU)
• 矩阵开关提供最多512个交叉点
• 基于向量的数字通道板卡
• 混合信号仪器包括: 数字化仪和DSA
• 6.6 GHz/26.5GHz的RF生成和采集
• 业内最精确7位半DMM
使用NI的产品
Demo图片
重点2：电源管理芯片混合信号特性分析演示2
技术要点
NI展示了基于向量的PXI数字通道板卡通过集成的微控制器控制和测试PMIC。微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值。PXI平台为具有集成MCU的PMIC提供了一个高度并行，紧凑的测试系统，可以从台式系统扩展到基于PXI（STS）的生产测试系统。
基于向量的PXI数字通道板卡根据已定义好时间设置和电平的向量激发数字向量，从而进行将引脚电子硬件的数字连接和DC参数测量功能与数字定时灵活性结合在一起。 基于向量的PXI数字通道板卡的多种时间设置可用于指定模式中一个向量到另一个向量之间的不同周期和边沿位置，同时也包含其它更多功能来帮助测试工程师为设备/设备系列创建完整的测试程序。
系统功能简述
本演示展示了基于向量的PXI数字通道板卡通过集成的微控制器控制和测试PMIC。微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值。本演示的待测件为Buck降压斩波电路，同时具有6路输出，通过基于向量的PXI数字通道板卡对微控制器使用I2C与主机通信并设置电压输出值，并配合NI源测量单元（SMU）实现对电源管理芯片特性分析，测试项如负载调整率，效率等。
基于向量的PXI数字通道板卡会随带NI Digital Pattern 编辑器，非常适合于实验室的特性分析。它集成的一系列强大的调试工具，如历史RAM工具、数字示波器、实时引脚视图、系统视图，以及用于特性分析和裕量测试的Shmoo工具。
另外在PXI机箱上附带的负载板附件提供了一个机械接口，用于将PXI机箱上模块的接口连接到负载板上。这样能够充分简化待测件的安装。
使用NI的产品
基于向量的数字通道板卡参数